Korozní zkušebnictví

  Korozní komora VLM ClimaCorr CC 1000 TL

automatická korozní komora o objemu 1080 litrů

pro provádění cyklických korozních zkoušek

s teplotním rozsahem –40 až 80 °C

  Korozní komora VLM CCT 400 FL I

– korozní komora o objemu 400 litrů pro zkoušku v solné mlze a kondenzační zkoušku        

  Korozní komora ControlArt Type 2

– automatická korozní komora o objemu 2000 litrů pro cyklické zkoušky se sprchováním vzorků
                

Korozní komora Liebisch KB 300

– korozní komora pro zkoušku oxidem siřičitým (tzv. Kesternichova zkouška – zkouška odolnosti proti vlhké atmosféře s obsahem oxidu siřičitého) a kondenzační zkoušky
        

Korozní komora Zhong Zhi CZ-90A

– korozní komora dedikovaná pro zkoušku v okyselené solné mlze s přídavkem chloridu měďnatého (CASS)
                

Klimatická komora Weiss C600/70/3

– klimatická komora o objemu 600 litrů umožňující řízení relativní vlhkosti a teploty od –77 do 150 °C pro zkoušky PV 1200, PV 1209 ad.
         

Komora Q-Sun Xe-3

– komora s xenonovými výbojkami, umožňující laboratorní simulaci vlivů působení slunečního záření a dalších povětrnostních podmínek (teplota, vlhkost) na organické materiály a celé trojrozměrné výrobky z těchto materiálů. Spektrum záření lze kontrolovat vložením odpovídajících filtrů mezi výbojky a zkoušené výrobky. Získat tak lze spektrum venkovního denního světla, různá spektra slunečního světla za oknem či rozšířené UV spektrum.
        

Komora QUV LU-8047-TM

– komora pro urychlené stárnutí materiálů povětrnostními vlivy se simulací slunečního svitu ultrafialovými (UV) fluorescenčními lampami. Komora se používá ke zkoušení odolnosti střešních krytin, těsnících materiálů, plastů, textilu, nátěrových hmot a materiálů používaných v automobilovém průmyslu. Během expozice lze zkoušené materiály a výrobky střídavě ozařovat UV zářením, vystavovat kondenzaci vodní páry při různých teplotách a sprchovat.

Rastrovací elektronový mikroskop (SEM) Zeiss EVO15 s energiově disperzním (EDX) analyzátorem

– umožňuje detailní pozorování vodivých vzorků s rozlišením v řádu jednotek nanometrů a analýzu prvkového složení pozorovaných vzorků pomocí EDX analyzátoru. Volba detektoru použitého k získání obrazu umožňuje hodnotit stav povrchu a reliéf vzorku (detektor sekundárních elektronů) nebo materiálový kontrast (detektor zpětně odražených elektronů)
        

Přenosný rentgenový fluorescenční spektrometr (XRF) Vanta

umožňující stanovení přesného prvkového složení většiny kovových materiálů
        

Potenciostaty Biologic SP-200

pro elektrochemická měření včetně metody elektrochemické impedanční spektroskopie
        

Mikroskop atomárních sil (AFM) AIST-NT SmartSPM 1000 s Kelvinovou sondou (SKPFM)

Rastrovací Kelvinova sonda (SKP) Wicinski-Wicinski

pro elektrochemická měření za atmosférických podmínek

Digitální mikroskop Olympus DSX 510

 Stereomikroskop Olympus SZX

Automatická bruska a leštička Saphir 520

pro rychlou přípravu vzorků pro metalografické hodnocení

Naprašovačka SC7620